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  • xrf檢測儀具有低檢出限與高穩(wěn)定性
    20258-18

    xrf檢測儀作為一種無損、快速的分析技術,其低檢出限(LOD)和高穩(wěn)定性是其在材料成分檢測、質量控制及合規(guī)性測試中的核心優(yōu)勢。一、xrf檢測儀低檢出限:精準捕捉微量成分低檢出限指能夠可靠識別并定量分析樣品中極低濃度元素的能力,通常可達ppm(百萬分之一)甚至ppb(十億分之一)級別。這一特性使其能滿足各類嚴格標準的要求,具體實現(xiàn)依賴于以下關鍵技術:1.高性能X射線源與探測器組合采用高功率、多靶材的...

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